TableXAFS是一種實(shí)驗(yàn)室級小型化X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)分析設(shè)備,能夠在常規(guī)實(shí)驗(yàn)室內(nèi)完成材料的局域原子結(jié)構(gòu)表征,其核心特點(diǎn)是擺脫對同步輻射光源的依賴,通過緊湊設(shè)計(jì)和高性能組件集成,實(shí)現(xiàn)與大型同步輻射裝...
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分析測試儀器
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查看詳情CT型真空紫外光譜儀具備較高的靈敏度和分辨率,能夠精確測量微弱的光譜信號,揭示物質(zhì)更細(xì)微的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。其次,該儀器具備較寬的波長覆蓋范圍,可以覆蓋從近紫外到真空紫外區(qū)域的多個(gè)波長范圍,滿足各種研究需求...
查看詳情真空紫外光譜儀采用Seya- Namioka光路結(jié)構(gòu),入射狹縫和CCD探測器位于羅蘭圓上,可以單色模式和光譜模式切用 。
查看詳情?分辨平場光譜儀,采?全息凹球?變線距光柵進(jìn)?分光,具有平場特性,便于使??陣CCD記錄光譜。光柵?作在掠?射模式下,衍射效率?,同時(shí)通過選?不同的光柵型號,可以實(shí)現(xiàn)波?范圍1~30nm的全覆蓋。
查看詳情平場光譜儀,采用全息凹球面變線距光柵進(jìn)行分光,具有平場特性,便于使用面陣CCD記錄光譜。光柵工作在掠入射模式下,衍射效率高,同時(shí)通過選用不同的光柵型號,可以實(shí)現(xiàn)波長范圍0.6~200nm的全覆蓋。
查看詳情RapidXAFS主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。
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